BX51-P是利用偏光识别样品的不同特性的高级偏光系统显微镜。适用于各向同性、各向异性材料的鉴别,广泛应用于矿物、化工产品,医学、植物学等分析。 UIS2物镜观察到的鲜明影像 能够实现最小光学失真的偏振光用物镜ACHN-P、UPLFLN-P系列产品中选择所需产品。UPLFLN-P系列物镜是能够用于微分干涉观察和包括紫外线激发的荧光观察的通用物镜,能应对包含偏振光观察的多种研究和检查。 *EF值:平行尼科尔和正交尼科尔亮度比较,EF值越高光学失真越少,表明偏振光特性越好。 观察影像实例 石英闪长岩中的斜长石带状结构 液晶MBBA(甲氧基的氨基联苯丁基苯胺) UPLFLN-P系列产品
卓越的操作性能和光学性能操作简便、观察清晰的显微镜机体彻底追求人机工程学的Y形框架,操作更为舒适,提高了观察效率。极大地降低了长时间观察的疲劳度。 |
各种补偿板的延迟测量范围 | ||
补偿板 | 测量范围 | 主要用途 |
U-CTB厚型Berek | 0-11,000nm | 较大的延迟测量(R*>3λ)。(结晶、高分子、纤维、光弹性失真等) |
U-CBE Berek | 0-1,640nm | 延迟测量(结晶、高分子、纤维、生物体组织等) |
U-CSE Senarmont | 0-546nm | 延迟测量(结晶、生物体组织等)对比度增强(生物体组织等) |
U-CBR1 Brace-Kohler 1/10λ | 0-55nm | 微小延迟测量(结晶、生物体组织等) 对比度增强(生物体组织等 |
U-CBR2 Brace-Kohler 1/30λ | 0-20nm | |
U-CWE2 石英楔子 | 500-2,200nm | 延迟的近似测量(结晶、高分子等) |
*R表示延迟。
为提高测量精度,建议与干涉滤镜45IF546一起使用。(U-CWE2除外)
Copyright © 2011-2015 opt-sience.com 版权所有:高端金相分析设备制造商-苏州西恩士工业科技有限公司 苏ICP备11057372号-1 邮箱登陆
关键词:清洁度检测,清洁度分析,零部件清洁度检测,清洁度检测方法,金相显微镜,“金相分析仪”,“清洁度检测系统”,“奥林巴斯金相显微镜”,“全自动金相磨抛机”,“金相制样设备”,“金相耗材”,金相试样磨抛机,大型金相切割机,金相镶嵌机